Neu: Berührungsloser On-Wafer Test und IC Charakterisierung

Fehlerhaft kontaktierende und vor allem defekte Prüfspitzen gehören der Vergangenheit an.

Mit der weltweit ersten berührungslosen Probe Station für On-Wafer Testing und IC Charakterisierung können Sie ohne mechanischen Kontakt messen und damit den kostenintensiven Verschleiß von Prüfspitzen unterbinden. Da die Probe Station entsprechend Ihren Prüfaufgaben vorkonfiguriert geliefert wird, ist die Inbetriebnahme sehr einfach.

Schauen Sie sich dazu unsere Videos an.

Einführung in die Probe Station

Inbetriebnahme der Probe Station

Kalibration der Probe Station

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