Mit der einzigartigen Technologie der Hoch-
temperaturprobekarten von Celadon lassen sich
Parametermessungen auf Wafern auch bei
Temperaturen über 200 Grad Celsius problemlos
durchführen.

Die Probekarten sind dabei durch die spezielle
patentierte Technologie langlebig und einfach zu
handhaben. Speziell Lebensdaueruntersuchungen
auf Halbleiterwafern lassen sich mit diesen Probe-
karten mit großer Flexibilität und Genauigkeit
durchführen.

Die Probekarten sind passend zu
fast allen gängigen halbautomatischen –
und vollautomatischen Waferprobern
erhältlich.