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EVA100 – Evolutionary Value Added Measurement System

Unter diesem Namen hat Advantest ein IC-Testsystemkonzept entwickelt, das in einem handlichen und modularen Testkopf verschiedene Instrumente integriert.

Mit der Zunahme intelligenter Baugruppen, den sogenannten „smart devices“, steigen die Anforderungen an analoge Sensor IC’s. Größere Performanz, höhere Genauigkeit und längere Zuverlässigkeit waren auch schon davor wichtige Schlagworte und werden immer wichtiger – trotzdem dürfen die Testkosten nicht steigen, sondern sollen dazu noch sinken.

Mit dem hochintegrierten Testsystem EVA100 bietet Advantest eine sehr gelungene Kombination an modularem  Hardwarekonzept in Verbindung mit einfach zu bedienender und intuitiver Software an. Dadurch kann die Erstellung von Prüfroutinen auch von Entwicklern sehr einfach erlernt werden und man benötigt keinen eigenen Spezialisten für das System.

Für die umfängliche Messung analoger bzw. mixed-signal DUT’s stehen im EVA100 nach Bedarf Stromversorgungsmodule, 4-Quadranten SMU’s (Signal Measurement Units), Pattern Generatoren, AWG’s (Arbitrary Waveform Generator), Digitizer und Oszilloskop zur Verfügung.

 Besonders gelungen ist die Software des Systems. Mit einer extrem gut gelungenen Oberfläche können Abläufe per drag & drop mit der Maus intuitiv, schnell und sicher zusammengestellt werden. Automatische Reportfunktionen verbessern auch die effiziente Auswertung und erleichtern eine klare Dokumentation.

Damit ist das EVA100 sehr gut geeignet für Charakterisierung, Funktionale Evaluierung, und Serienfertigung im Low Pin Count für analoge, mixed signal und digitale Produkte, z.B.

DC-DC-Konverter, Spannungsregulierungs-IC‘s, AD-Konverter, DA-Konverter IC‘sMCU oder Standard Logik IC‘s DFT Test.

Spezifikation allgemein
Software:
  • MS Windows 7 (64bit) ab Services Pack 1
  • intuitive EVA100 GUI
  • Prüfablauf-Templates verfügbar

Bildschirmauflösung:

Min. 1366 x 768 Pixel

Unterstützte Protokolle:

I2C, SPI, JTAG

Maße Digitaleinheit:

BHT 220 x 472 x 206mm

Maße Analogeinheit:

BHT 363 x 472 x 206mm

Produktion:

Bis zu 4 Testeinheitenkönnen zusammen betrieben werden.

Spezifikation Digitaleinheit

Synchronisation:

  • Sync der Module und Einheiten möglich
  • Hardware-Snc
Stromversorgung: 7V, 500mA

Pattern Generator:

  • 100MHz Pattern Generator (64ch I/O), Maximum 1024 ch
  • Per Pin Parametric Measurement Unit (64ch)
  • Time Measurement Unit (8ch)

Arbitrary Waveform Generator
und Digitizer:

  • Arbitrary Waveform Generator (500ksps/18bit) (4port)
  • Digitizer (500ksps/18bit) (2port)
  • Reference Voltage Source (1ch)
Spezifikation Analogeinheit

General Interface Controller:

  • Max. 100Mbps Pattern Generator (8ch)
  • Protocol support for I2C, SPI, JTAG
  • Relay Control (64 user control bits)
  • Hardware synchronization
Analog VI Source:
  • Spannungs-/Strombereich +-128V, +-2.0A (DC) / 5.0A
  • (Pulse)Spannungs-/Strombereich +-64V, +-500mA (DC)
  • Arbitrary Waveform Generator, Digitizer, Differentieller Voltmeter

Pattern Generator:

  • Up to 100Mbps Pattern Generator (32ch I/O)
  • Low Jitter Pin (8ch I/O) / Low Jitter Clock (1ch)
  • Per Pin Parametric Measurement Unit (32ch)
  • Time Measurement Unit (4ch)
  • Arbitrary Waveform Generator and Digitizer
  • Arbitrary Waveform Generator (200ksps/24bit 80kHz BW; Differential 4ch)
  • Digitizer (625ksps/24bit 200kHz BW) (Differential 4ch)
  • Per Pin Parametric Measurement Unit (16ch)

Signal Capture:

  • 1Gbps (max. 2Gbps) Sampling (4ch)