Bauteilcharakterisierung mit HF-Messtechnik
Elektrische Messlösungen für effiziente Charakterisierung von Halbleitern und Bauteilen
Mit unseren Messsystemen für die Bauteilprüfung analysieren Sie Halbleiterbauelemente, Materialien und HF-Komponenten präzise, effizient und reproduzierbar. Bei einem Halbleitertest werden elektronische Bauelemente wie Transistoren, Dioden oder Mikrochips auf ihre Funktionsfähigkeit, Zuverlässigkeit und Spezifikationen überprüft.
Mit welchen Methoden können Halbleiter und andere Bauteile elektrisch charakterisiert werden?
Unser Portfolio umfasst Lösungen für Load Pull, Rauschparameter, DC-Parameter Testing, IV-Charakterisierung und S-Parametermessungen.
Damit unterstützen wir Unternehmen aus Entwicklung, Produktion und Forschung bei der sicheren Bewertung und Optimierung elektronischer Bauteile und Halbleiter.
DC Parameter Testing
S-Parameter
Verschiedene Ansätze zur Bauteilcharakterisierung
- Load Pull & Rauschparameter messen: Leistungsfähige Tuner-Lösungen für präzise Rauschmessungen im HF- und Mikrowellenbereich.
- DC-Parameter Test mit modernen SMU-Systemen: Flexible Messlösungen für Strom, Spannung und Materialcharakterisierung in Labor und Testsystem.
- IV- und Pulsed-IV-Charakterisierung: Aussagekräftige Kennlinienmessungen für Halbleiteranalyse, Modellbildung und Technologieentwicklung.
- S-Parameter präzise erfassen: Koaxiale Vektor-Netzwerkanalysatoren und Hohlleiter-Erweiterungsmodule für mmWellen-Frequenzen, sowie komplette HF-Messplätze für zuverlässige Messergebnisse
- Hochfrequenz- und mmWellen-Leistungsmessung: bis zu 3 THz
Wir sind Experten für Bauteilcharakterisierung: Testen Sie uns.
Unser Anspruch ist es, Ihre Fragen vollständig und kompetent zu beantworten.
Mit breitem Komponentenportfolio sowie bereichsübergreifender Expertise der Kolleginnen und Kollegen in unserer Firmengruppe sind wir Ihr starker Partner.