Was geschieht bei der Power Device Analyse?
In der Power-Device-Analyse werden Bauteile charakterisiert, die für große Ströme bzw. große Spannungen konzipiert sind. Ein besonderer Fokus liegt sowohl auf der Belastbarkeit als auch auf der Stabilität und Effizienz. Die Messdaten helfen auch bei der Modellbildung und Weiterentwicklung.
Der moderne Weg, um schnell und einfach elektrische Charakterisierungen an Leistungshalbleitern durchzuführen.
Der sinnvolle und sparsame Umgang mit Energie ist heute so wichtig wie nie. Moderne Leistungshalbleiter leisten hier einen wertvollen Beitrag, um elektrische Anlagen noch effizienter und sparsamer zu gestalten. Halbleiterhersteller brauchen genaue Daten über die exakten elektrischen Eigenschaften ihrer Bauelemente als Grundlage für weitere Optimierungen.
Der Keysight B1505A bietet durch seine Modularität flexible Anpassungsmöglichkeiten, um das Gerät zum Test praktisch aller Technologien einsetzen zu können.
Die Möglichkeiten reichen vom Test gepackter Bauelemente bis hin zum On-Wafer Test. Die Expertise der bsw vervollständigt das Angebot mit Training oder Consulting bis hin zu Turnkey Lösungen.
Der schnellste und genaueste Weg zu verlässlichen Bauteilparametern für Schaltungsentwickler.
Entwickler von Leistungselektronik streben nach immer effektiveren und gleichzeitig preisgünstigeren Schaltungsentwürfen. Das wirft eine Anzahl von Problemen auf. Die Effizienz kann unter anderem durch präzisere Bauteilparameter bei der Schaltungsentwicklung und Simulation gesteigert werden. Bei kritischen Parametern sollte man sich aber wegen der Bauteilestreuung nicht nur auf Datenblätter verlassen, sondern man muss die Daten selbst für die im Hause verwendeten Bauelemente ermitteln. Durch den zunehmenden Preisdruck wird eine komplexere Wareneingangskontrolle immer wichtiger.
Mit dem Keysight B1506A steht Anwendern aus den entsprechenden Abteilungen ein einfach zu bedienendes und doch präzises Werkzeug zur Verfügung. Auch hier bietet die bsw effiziente Services rund um das Messgerät, um Anwendern den Einstieg und die alltägliche Arbeit so einfach wie möglich zu machen.
Wie hilft die Device Parameter Analyse bei der Entwicklung neuer Modelle?
Device Parameter Analysis liefert die präzise Bewertung der relevanten Bauelementeparameter als Grundlage für weitere Modelle. Im Zentrum stehen hier nichtideale Effekte und parasitäre Elemente, die das Verhalten im realen Einsatz bestimmen. Durch die konsistente Verknüpfung von Messdaten und Modellparametern entsteht eine valide Basis für Simulation, Technologievergleich und die zielgerichtete Optimierung von Schaltungen.
Umfangreiche Halbleitercharakterisierungs-Lösung für Forschung, Entwicklung und Wissenschaft.
Mit zunehmender Miniaturisierung in der Halbleiterindustrie hat die Komplexität der verwendeten Charakterisierungs- und Analysemethoden stark zugenommen. Nicht nur muss heute im Standard wesentlich gemessen werden, sondern es werden zunehmend neuartige Messmethoden, wie zum Beispiel „Pulsed IV“, angewendet. Das modulare Konzept des Keysight B1500A ermöglicht es Anwendern, sich ein optimales Messwerkzeug zusammenzustellen. Flexibilität durch Upgrade hilft, die wertvolle Investition lange zu sichern. Zusammen mit der bsw finden Anwender nicht nur die optimale Konfiguration für die vorgesehene Applikation, sondern haben gleichzeitig auch einen kompetenten Ansprechpartner zu den Themen Waferprobing, Fixturing oder Komplettlösungen.
Modulare Source Measure Units für automatische Testsysteme einsetzen
System Instruments bilden die Grundlage für die hochpräzise elektrische Charakterisierung von Bauelementen, Wafern und Technologien unter definierten Bias-Bedingungen. Im Fokus stehen reproduzierbare I-V-, C-V- und Leakage-Messungen sowie die präzise Erfassung von Schwellenwerten, Widerständen und Breakdown-Verhalten als Basis einer belastbaren Parameterextraktion. DC-parametrische Messsysteme liefern somit die präzisen Daten, die für die Technologiebewertung, Bauteilmodellierung und die exakte Korrelation zwischen DC-, HF- und Zuverlässigkeitsverhalten erforderlich sind.
Hochpräzise Schaltmatrizen für automatische Testsysteme
Hochpräzise, modulare SMU Unit zum Einsatz im automatischen Test.
Viele Aufgaben im Bereich der Halbleitercharakterisierung sowie im Test elektronischer Baugruppen sind Routineaufgaben. Testreihen von neuen Bauelementen oder auch Stichproben aus der Produktion werden in großer Zahl routinemäßig auf verschiedenste elektrische Parameter vermessen. Hierzu benötigt man kein Messgerät mit einem komplexen graphischen Benutzerinterface. Eine einfache Schnittstelle für die Fernsteuerung mit einem PC ist ausreichend. Die Auswertung und Visualisierung der Ergebnisse wird ebenfalls auf dem PC vorgenommen. Mit dem Keysight E5270B und seinem „kleinen Bruder“, dem E5260A, stehen zwei leistungsfähige, modulare SMU Units für den Zweck der Integration in automatische Testsysteme zur Verfügung. Die bsw berät Sie gerne bei Fragen der Integration und stellt auf Wunsch kundenspezifische Gesamtlösungen inklusive der dazugehörigen Software zusammen.
Hochpräzise Schaltmatrizen für Halbleitercharakterisierung
Schaltmatrizen vereinfachen Messungen an komplexen Halbleiterteststrukturen.
Bei der Entwicklung und wissenschaftlichen Forschung an Halbleitern werden oft komplexe Teststrukturen mit vielen Anschlüssen verwendet. Um diese Teststrukturen mit den meist knappen Messgeräteresourcen flexibel zu verbinden, verwendet man spezielle Schaltmatrizen. Von der Verwendung normaler General Purpose Scanner oder Multiplexer ist hierfür abzuraten, da diese nicht ausreichend geschirmt sind und zusätzlich durch ihre internen Leckströme die geringeren Werte, z.B. im Sperrzustand eines Halbleiters, maskieren können. Spezielle „geguardete“ Messpfade in den Keysight Halbleitertestmatrizen sorgen dafür, dass auch sehr kleine Signale nicht verlorengehen. Einsetzbar sind solche Matrizen sowohl als Systemkomponenten in einem automatischen Testsystem als auch zusammen mit einem Keysight B1500A Parameteranalyzer. Die bsw berät Sie gerne rund um den Einsatz einer Schaltmatrix für Ihre Messaufgabe und findet die für Sie passende Lösung.
Software im DC Parameter Testing und wie man sie aufbaut
Vereinfacht eine Softwarebibliothek die Automatisierung von Halbleitertests?
Programmierung und Pflege von Software für den automatischen Halbleitertest sind Aufgaben, die Spezialwissen, Erfahrung und Zeit erfordern. Wesentlich erleichtern kann man sich diese Aufgaben durch die Verwendung einer anwendungsnahen Softwarebibliothek. Das von der bsw vorgestellte Produkt orientiert sich in wesentlichen Grundzügen an dem „Test Instruction Set“ des weit verbreiteten HP4062.
Die Bibliothek kann sowohl in C als auch in BASIC eingebunden werden. Eine Schnittstelle zur Parametric Test Shell Keysight SPECS ist ebenfalls vorhanden. Treiber für praktisch alle aktuellen und auch einige historische Halbleiterparametermessgeräte sind vorhanden. Zusätzliche Geräte können auf Nachfrage in die Bibliothek aufgenommen werden.
Zubehör für die Charakterisierung von Halbleitern
Der einfache Weg zu besten Messergebnissen
Nicht nur die Qualität des Messinstruments entscheidet über Ihre Messung. Deshalb bieten wir neben unseren Komplettlösungen auch passendes Zubehör an.
Damit profitieren Sie von drei klaren Vorteilen:
- Erleichterung der täglichen Arbeit
- Höchste Qualität des gesamten Messpfades
- Zuverlässige Einhaltung der Arbeitssicherheit
Halbleiterbauelemente (z.B. IGBTs) für Anwendungen im höheren Leistungsbereich sind oftmals sehr voluminös. Sind dann noch Kühlelemente verbaut, sprengen die Ausmaße den vorhandenen Raum jedes konventionellen Prüfadapters.
Um dieses Problem zu lösen und gleichzeitig ein bequemes aber auch sicheres Arbeiten zu ermöglichen haben wir eine spezielle Haube mit erweiterter Arbeitsfläche entwickelt.
- Für die Charakterisierung von Leistungshalbleitern ist diese Haube speziell auf die Power Device Analyzer B1505A und B1506A von Keysight zugeschnitten.
- Das jeweilige Testfixture wird nahtlos und im Originalzustand in die Haube integriert. Es behält dadurch auch die volle Herstellergewährleistung.
- Eigene Sicherheitstechnik mit Verriegelung sowie die Integration des Messgeräte Interlocks machen die Bedienung sicher.
- Der Kraftaufwand für die Bewegung des Haubenvisiers wird durch abgestimmte Gasdruckfedern auf ein Minimum reduziert – Ergonomie meets Safety.
Das im Inneren der Kammer zur Verfügung stehende Volumen von ca. 500 mm x 700 mm x 600 mm (T x B x H) ist in den meisten Fällen selbst für ausgefallene Prüflinge ausreichend. Es stehen Versionen mit Anpassungen für Tests bis 3 kV und für 10 kV zur Verfügung.
Die beliebteste Variante kommt mit einem Untergestell auf Rollen, in dem auch die Messgeräte integriert werden können. Diese Lösung ist nicht nur sicher und flexibel, sondern auch mobil innerhalb eines Labors einsetzbar. Ortsfeste Versionen ohne fahrbares Untergestell zum Platzieren auf einem Labortisch sind ebenfalls verfügbar.
Suchen Sie nach einer maßgeschneiderten Lösung im Halbleitertest? Rufen Sie uns an, oder setzen Sie sich per email mit uns in Verbindung.
Der de facto Standard für Messleitungen und Steckverbinder in der Halbleitermesstechnik ist Triax.
Der dreilagige Aufbau der Messleitungen vermeidet weitestgehend Leckströme entlang des Messpfades und sorgt so für beste Messergebnisse.
In der Realität ist man aber immer wieder zu Kompromissen gezwungen.
Hier helfen Adapter, die es zum Leidwesen vieler Anwender in einer nahezu unübersehbaren Vielfalt gibt.
Über Auswahlmöglichkeiten und Vor- und Nachteile anderer gängiger Adapter informieren wir Sie in der Rubrik Adapter.
Das Ultra High Voltage Bias Tee ist ein Zusatzgerät, das für CV-Messungen an Halbleiterbauelementen in Verbindung mit dem Keysight B1505A verwendet wird. Unterstützt werden Messungen der Bauelementekapazitäten Cds und Cgd bei „Normally Off“-Bauteilen. Das UHV Bias Tee kombiniert die Testsignale der MFCMU des B1505A und des N1268A Ultra High Voltage Expanders. Die Ausgänge des UHV Bias Tees werden mit den dafür vorgesehenen UHV Eingängen der N1265A Testfixture verbunden. Alternativ können die Ausgänge des Ultra High Voltage Bias Tees auch mit einer eigenen Testfixture oder einem Waferprober verbunden werden.
Weitere Informationen zum Thema Bias-Tees finden Sie in unserer Komponenten-Übersicht.
Wir sind Experten für Hochfrequenz: Fragen Sie uns.
Gerne besprechen wir Ihre individuellen Anforderungen persönlich.
Wir freuen uns auf Ihre Kontaktaufnahme.
Ihr bsw TestSystems & Consulting Sales Team
