eFuse / Probe Protectors

Bei On-Wafer Messungen von Leistungshalbleitern mit teuren Probes kann ein Verrutschen der Probe oder eine unzuverlässige Kontaktierung rasch zu einem hohen DC-Strom führen und sowohl das Testobjekt als auch die Probe zerstören [1]. Abhilfe bietet hier ein sehr kompaktes und einfach zu bedienendes Gerät: die eFuse von AGIL Elektronik. Der Stromkreis wird durch dieses Gerät geleitet und beim Überschreiten einer einstellbaren maximalen Stromgrenze in kürzester Zeit unterbrochen. Die sehr geringe Zeitdauer für das Abschalten liegt dabei im Bereich von 300 ns. Zur Integration in automatisierten Messplätzen dient ein RS232-Interface durch welches alle Funktionen ferngesteuert werden können.

Falls Sie Spannungs- oder Stromwerte benötigen sollten, die noch nicht mit unseren eFuse Modellen erreicht werden, bitten wir Sie, uns zu kontaktieren. Wir arbeiten gerne an der Weiterentwicklung der eFuse.

 

[1] M. I. Khalil, A. Liero, A. von Müller und T. Hoffmann, “Current Switch-Off Solution to Protect RF Power Transistors during Measurements”, Microwave Journal, Vol. 50, Issue 7, Seiten 102-106, 2007.