Prüfspitzen / Probes

Die PICOPROBE® MODEL 40A und 50A von GGB sind die Klassiker der Messspitzen für RF-Tests und Probing. Dank der neuartigen Koaxialtechniken sind sehr niedrige Verluste möglich. Die Messspitzen können bis hin zu 110GHz eingesetzt werden (siehe Tabelle unten). Bei diesen Modellen stehen 13 Adapter zur Verfügung: T, C, GR, P, DP, EDP, LP, Q, F, S, DS, VP oder RVP, je nach Art der Anwendung. Bitte kontaktieren Sie uns für mehr Details. Zum bestellen bitte immer die folgenden Spezifikationen beachten: Modell (z.B. 40A)-Konfiguration (z.B. GSG)-PitchSize (z.B. 150)-Adapter (z.B. P).

Spezifikationen

Model	Frequency Range	Pitch Size	IL*	RL**	MR***	Configuration	Connectors
10	DC - 11GHz		3dB	>10dB		SG, GSG	SMA and 50Ω
40A	DC - 40GHz	25 - 2540µm	0.8dB	> 18dB	> -80dB	GSG, SG, GS	2.9mm Female K
40M	DC - 40GHz	25 - 2540µm	0.4dB	> 20dB	- 52dB	GSG, SG, GS	2.4mm
50A	DC - 50GHz	25 - 1250µm	< 1dB	> 18dB	-80dB	GSG, SG, GS	Female 2.4mm
67A	DC - 67GHz	25 - 1250µm	< 1.1dB	> 14dB	-80dB	GSG, SG, GS	1.85mm V
110H	DC - 110GHz		1.5dB	15dB			1.0mm female

*IL=Insertion Loss; **RL=Return Loss; ***MR=Measurement Repeatability

Darüber hinaus bietet GGB auch eine Multi-Contact Wedge-DC mit 40, 50, 67 oder 110 GHz – eine Kombination von RF und DC Tastspitzen.

Hohlleiter Messspitzen decken den Frequenzbereich von 33GHz – 1,1THz ab. Bei den entsprechenden GGB Picoprobe© Serien erfolgt das Einkoppeln der Signale durch einen passenden Rechteckhohlleiter für jedes spezifische Frequenzband. Die Kombination aus Koaxialtechnik und Wellenleiter sorgt für sehr niedrige Verluste und Dispersion sowie gefederte Tastspitzen eine zuverlässige Wiederholbarkeit garantieren.

Spezifikationen

Microwave Probes – Waveguide Connectors
Model	Frequency Range	Pitch Size	IL*	RL**	MR***	Config.	Connectors
50	33 - 50 GHz	from 50µm up	1 dB	15 dB	-55 dB	SG, GSG, GS	WR-22 waveguide input
75	50 to 75 GHz	from 50µm up	1.25 dB	15 dB	-50 dB	GSG, SG, GS	WR-15 waveguide input
90	60-90 GHz	50 to 450 µm	1.5 dB	15 dB	- 50 dB	GSG, SG, GS	WR-12 waveguide input
120	75 to 110 GHz	50 to 450 µm	1.75 dB	15 dB	-50 dB	GSG, SG, GS	WR-10 waveguide input
140	90 to 140 GHz	50 to 450 µm	2 dB	15 dB	-50 dB	GSG, SG, GS	WR-8 waveguide input
170	110 to 170 GHz	50 to 450 µm	2.25 dB	15 dB	-50 dB	GSG, SG, GS	WR-6 waveguide input
220	140 to 220 GHz	50 to 450 µm	2.5 dB	15 dB	-50 dB	GSG, SG, GS	WR-5 waveguide input
325B	220 to 325 GHz	25 to 55 µm	3 dB	15 dB	-50 dB	GSG, SG, GS	WR-3 waveguide input
500B	325 to 500 GHz	25 to 55 µm	4 dB	15 dB	-50 dB	GSG, SG, GS	WR-2.2 waveguide input
1100B	750 to 1100 GHz	25 mµ	5 dB	15 dB	-50 dB	GSG, SG, GS	WR-1.0 waveguide input

*IL=Insertion Loss; **RL=Return Loss; ***MR=Measurement Repeatability

Die GigaTest Labs Mikrowellen-Prüfspitzen weisen ausgezeichnete elektrische Eigenschaften und Dauerhaftigkeit auf und sind für die verschiedensten Anwendungen gedacht: von Wafertesten, Package, BGA, PCB Socket, Backplane, high density interconnect uvm. bis hin zu Signal Integrity.

Single RF Probe (DX): Eine sehr robuste Prüfspitze, ideal für die konventionelle Bauteil-Charakterisierung.

Dual RF Probe: Einzigartiges Design, welches aus zwei Messspitzen auf einer Halterung besteht; eine Messspitze ist fixiert, die andere ist verstellbar, sodass man den Signal-to-Signal-Pitch einstellen kann.

Deep Access RF Probe (DA): Der etwas längere Hebel und die durch das Design erhöhte Verstellbarkeit erlaubt zum Beispiel das Rotieren des Prüfspitzes, was wiederum eine große Wendigkeit sicherstellt.

Die elektrischen und mechanischen Eigenschaften und Kennzahlen sind in der unteren Tabelle aufgelistet.

Spezifikationen

Single RF Probe Dual RF Probe Deep Access RF Probe	Electrical Characteristics	40 GHz Probe	65 GHz Probe
	Impedance:	50 Ohms	50 Ohms
	Frequency Range:	DC to 40 GHz	DC to 65 GHz
	Return Loss:	-15 dB	-15 dB
	Insertion Loss:	1.5 dB	1.5 dB

	Mech. Characteristics	40 GHz Probe	65 GHz Probe
	Probe Tip Configurations:	GS \| SG \| GSG	GS \| SG \| GSG
	Compatible Cables:	SMA, 3.5mm and 2.92mm Cables	2.4mm and 1.85mm Cables
	Standard Pitches:	100µ, 150µ, 200µ, 250µ, 300µ, 450µ, 500µ, 600µ, 750µ, 1000µ	100µ, 150µ, 200µ, 250µ, 300µ,450µ, 500µ, 600µ, 750µ, 1000µ

GigaTest bietet auch Kalibriersubstrate für 3 unterschiedlichen Probe Tips an: ein für Dual Probes in GSSG Konfiguration, ein für GSG Probes und ein für die GS oder SG konfigurierte Proben.

Prüfspitzen / Probes

MR***