Contacting / Probe Stations

Mit unseren Partnern für Wafer Prober haben wir erfahrene und leistungsstarken Partner für Probe Stations und Kontaktierungslösungen an unserer Seite – egal ob Sie eine manuelle, halbautomatische oder vollautomatische Lösung suchen.

Mit eigenen Ergänzungen und Komponenten, die wir im eigenen Hause entwickeln, sind wir in der Lage, Gesamtlösungen nach Ihren Vorgaben zu konzipieren und Probe Stations zugeschnitten und optimiert für Ihre Anwendung zu konfigurieren. Dazu liefern wir auch das notwendige Zubehör, wie z.B. koaxiale oder triaxiale Chucks mit bis zu 300 mm Durchmesser, HF-Probes, Messkabel, koaxiale und triaxiale DC-Probes für kleinste Kriechströme oder für sehr hohe Spannungen und Ströme. Unsere Probe Systeme für HF-Anwendungen werden bis in den THz-Frequenzbereich eingesetzt, hier können wir Sie umfangreich bei der Integration von mmWellen-Modulen und Tuner-Systemen auf die Probe Station beraten. Im Bereich der Parameter-Analyse erstrecken sich die Erfahrungswerte von der Messung im fA-Bereich bis hin zu Systemen für 20kV und 1500A Pulsstrom.

Neben Beratung und Verkauf bieten wir Ihnen die Inbetriebnahme und Schulung für Probe Stations an. Bei Bedarf schulen wir Ihre Mitarbeiter, um Ihnen einen raschen Einstieg in die Verwendung Ihres Systems für die anstehenden Aufgaben zu ermöglichen. Ändern sich im Laufe der Jahre Ihre Aufgabenstellungen, unterstützen wir Sie bei Upgrades und Umrüstungen, wie z.B. die Umstellung eines manuellen Probers auf einen Halbautomaten oder die Integration von Modulen, Tunern, motorisierten Manipulatoren und Mikroskopen.

Wenn Sie Fragen zu diesem Thema haben oder einen Test durchführen müssen, der nicht mit typischen Standard- Geräten durchführbar ist, können wir Sie gerne telefonisch beraten. In vielen Fällen, auch bei besonderen Einsatzbereichen, wie z.B. dem Transport von Graphen-Schichten, können wir Ihnen dabei helfen, die richtige Anlage zu finden.

Wafer-Prober

Ein Waferprober ist ein Gerät, das in Industrie und akademischer Forschung dazu verwendet wird meist elektrische Kontakte zu Schaltungen und Strukturen auf Halbleiterscheiben (Wafern) oder sonstigen Substraten herzustellen.

Es gibt diese Anlagen mit unterschiedlicher Ausstattung. Allgemein kann man folgende Merkmale unterscheiden:

• Grad der Automatisierung (Manuelle, Halbautomatische oder Vollautomatische Betriebsweise)
• Spezielle Ausstattungen für z.B. HF Messungen oder zur Messung sehr kleiner oder sehr großer Spannungen und Ströme
• Universelles Zubehör zur Anpassung an bestimmte Messaufgaben

Die passgenaue Konfiguration eines Waferprobers an die geplante Messung lässt sich am Besten in einem Beratungsgespräch klären. Egal ob es sich um ein Einsteigermodel oder eine hochspezialisierte Sonderlösung handelt, wir haben die Lösung für sie.