Wafer Probe Systeme / Probing Stations, Equipments & mehr

Dank unserer Kooperationen für Wafer Prober Tests haben wir erfahrene und leistungsstarke Partner für Probe Stations und Kontaktierungslösungen an unserer Seite – egal, ob Sie eine manuelle, halbautomatische oder vollautomatische Probing Lösung suchen.

Mit unserem Equipment und den passenden Komponenten sind wir in der Lage, Gesamtlösungen nach Ihren Vorgaben zu konzipieren und Wafer Probe Maschinen zugeschnitten und optimiert für Ihre Tests zu konfigurieren. Dazu liefern wir auch das notwendige Equipment, wie z.B. koaxiale oder triaxiale Chucks mit bis zu 300 mm Durchmesser, HF-Probes, Messkabel, ebenso wie koaxiale und triaxiale DC-Probes für kleinste Kriechströme oder für sehr hohe Spannungen und Ströme. Unsere Probe Systeme für HF-Anwendungen werden bis in den THz-Frequenzbereich eingesetzt. Hier können wir Sie umfangreich bei der Integration von mmWellen-Modulen und Tuner-Systemen in Ihre Probe Station zur Durchführung optimaler Tests beraten. Im Bereich der Parameter-Analyse erstrecken sich die Erfahrungswerte von der Messung im fA-Bereich bis hin zu Systemen für 20kV und 1500A Pulsstrom.

Neben Beratung und Verkauf bieten wir Ihnen die Inbetriebnahme und Schulung für Wafer Probe Stations an. Bei Bedarf schulen wir Ihre Mitarbeiter, um Ihnen einen raschen Einstieg in die Verwendung Ihres neuen Prober Systems zu ermöglichen. So können Sie gleich mit dem Wafer Testing loslegen. Sollten Sie im Laufe der Jahre Ihre Aufgabenstellungen ändern, unterstützen wir Sie bei Upgrades und Umrüstungen Ihrer Maschinen. Zu diesem Service gehören u.a. die Umstellung eines manuellen Probers auf einen Halbautomaten oder die Integration von Modulen, Tunern, motorisierten Manipulatoren, Mikroskopen & weiterem Equipment.

Wafer Prober

Ein Wafer Prober ist ein Gerät, das in Industrie und akademischer Forschung dazu verwendet wird meist elektrische Kontakte zu Schaltungen und Strukturen auf Halbleiterscheiben (Semiconductor Wafer) oder sonstigen Substraten herzustellen.

Es gibt diese Maschinen mit unterschiedlicher Ausstattung. Allgemein kann man folgende Merkmale beim Probe Testing unterscheiden:

  • Grad der Automatisierung (Manuelle, halbautomatische oder vollautomatische Betriebsweise für Chip Tester)
  • Spezielle Ausstattungen für z.B. HF Messungen oder zur Messung sehr kleiner oder sehr großer Spannungen und Ströme
  • Universelles Zubehör zur Anpassung an bestimmte Messaufgaben

Eine strukturierte Planung und Durchführung jedes Testschritts auf dem Wafer gewährleistet, dass Ihr Probe Testing exakt auf Ihre Testanforderungen abgestimmt ist.

 

Wir beraten Sie zur optimalen Probe-Lösung

Haben Sie weitere Fragen rund um das Wafer Probing?

Stehen Test an, die Sie nicht mit Standard-Geräten durchführen können?

Tun Sie sich schwer mit der Auswahl des richtigen Probe Systems?

Reine Theorie hilft da nicht weiter. Die Auswahl und die passgenaue Konfiguration eines Wafer Probers lässt sich am Besten in einem individuellen Beratungsgespräch klären. In vielen Fällen unterstützen wir Sie auch bei besonderen Einsatzbereichen, wie z.B. dem Transport von Graphen-Schichten. Egal, ob es sich um ein Einsteigermodell oder eine hochspezialisierte Sonderlösung handelt - Wir haben die beste Lösung für Sie!

Wir sind Experten für exakte Probe Tests: Fragen Sie uns direkt!

Kontaktieren Sie mich und erhalten Sie eine professionelle Beratung.

Ich freue mich auf Ihre Anfrage!

Elmar Neumann

Tel:      +49(0)7032 895 93-40

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