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Focus Microwaves und bsw TestSystems & Consulting arbeiten ab sofort zusammen

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Manuelle oder automatische Charakterisierung von ESD-Effekten

Professionelle Lösungen zur Charakterisierung an integrierten Schaltkreisen nach internationalen Standards

Mit zunehmender Integrationsdichte und Miniaturisierung werden Elektronische Bauelemente und Schaltungen immer empfindlicher gegenüber elektrostatischen Entladungen. Zur Charakterisierung werden unterschiedliche Methoden herangezogen. Diese sind:

HBM: Human Body Model - eine der beiden "erforderlichen" Methoden.

CDM: Charged Device Model - die andere "erforderliche" Methode.

MM: Machine Model. Nicht mehr so oft angewendet.

TLP: Transmission Line Testing

VF-TLP: Very Fast TLP

HMM: Human Metal Model

Mit der Firma Grund Technical Solutions haben wir einen Partner, der innovative Lösungen für alle der oben genannten Tests anbietet. Eine flexible Hardware wird durch ein umfangreiches Softwarepaket kompletiert. In Zusammenarbeit mit dem Namhaften Proberhersteller Signatone stehen technisch ausgereifte Lösungen zum Testen von Modulen oder Wafern, angefangen bei manuellen Stationen bis hin zu High Speed Semiautomatischen Lösungen, zur Verfügung.