EVA100 – Evolutionary Value Added Measurement System

Unter diesem Namen hat Advantest ein IC-Testsystemkonzept entwickelt, das in einem handlichen und modularen Testkopf verschiedene Instrumente integriert.

Mit der Zunahme intelligenter Baugruppen, den sogenannten „smart devices“, steigen die Anforderungen an analoge Sensor ICs. Größere Performance, höhere Genauigkeit und längere Zuverlässigkeit waren auch schon davor wichtige Schlagworte und werden immer wichtiger – trotzdem dürfen die Testkosten nicht steigen, sondern sollen dazu noch sinken.

Mit dem hochintegrierten Testsystem EVA100 bietet Advantest eine sehr gelungene Kombination an modularem  Hardwarekonzept in Verbindung mit einfach zu bedienender und intuitiver Software an. Dadurch kann die Erstellung von Prüfroutinen auch von Entwicklern sehr einfach erlernt werden und man benötigt keinen eigenen Spezialisten für das System.

Für die umfängliche Messung analoger bzw. mixed-signal DUTs stehen im EVA100 nach Bedarf Stromversorgungsmodule, 4-Quadranten SMUs (Signal Measurement Units), Pattern Generatoren, AWGs (Arbitrary Waveform Generator), Digitizer und Oszilloskop zur Verfügung.

 Besonders gelungen ist die Software des Systems. Mit einer extrem gut gelungenen Oberfläche können Abläufe per drag & drop mit der Maus intuitiv, schnell und sicher zusammengestellt werden. Automatische Reportfunktionen verbessern auch die effiziente Auswertung und erleichtern eine klare Dokumentation.

Damit ist das EVA100 sehr gut geeignet für Charakterisierung, Funktionale Evaluierung, und Serienfertigung im Low Pin Count für analoge, mixed signal und digitale Produkte, z.B.

DC-DC-Konverter, Spannungsregulierungs-ICs, AD-Konverter, DA-Konverter ICs, MCU oder Standard Logik ICs DFT Test.