Basierend auf unserem langjährigen Wissen und Erfahrungsschatz aus unzähligen Kundeninstallationen mit den unterschiedlichsten Anforderungsprofilen, können wir Ihnen in folgenden Themenstellungen unsere Unterstützung anbieten:

• Messung der Signalintegrität in Frequenz (S-Parameter) und Zeit (TDR/TDT), Augendiagramme etc.
• DC Characterisierung und Modellierung von Transistoren, packaged oder on-wafer:
  - low leakage current/voltage (IC/IV) Messungen
  - High voltage/high current Messungen, typischerweise auch gepulst, Leistungshalbleiter
  
  
• Thermische Visualisierung mit IR oder Thermoreflexionsmethode von aktiven Halbleitern und Schaltkreisen, zur Detektion von Hot Spots; MTBF Analyse
  
  
• S-Parameter Messungen von z.B.
    -  konnektorisierten, aktiven oder passiven Modulen
    -  aktive Module, packaged oder on-wafer, versus Biasing bzw. Temperatur
  
  
• Rauschzahl- und Rauschparametermessungen von Transistoren
• Leistungs- (Power) und Load-Pull Messungen, bei Hochfrequenz-, µW und mmW Frequenzen

Wir nutzen unsere Erfahrung mit Produkten unserer Lieferanten zur Instandhaltung und für Reparaturen wie:

• Instandhaltung/Reparatur von elektromechanischen Impedanztunern
• Instandhaltung/Reparatur von Verstärkern

Für mittelgroße und große Organisationen ist es sehr aufwändig, mit jedem einzelnen Lieferanten in Kontakt und auf dem Laufenden zu bleiben. Diese Organisationen können unsere Dienste nutzen und Teilbereiche an uns auslagern, wie beispielsweise: Marktforschung, Einkauf, Handling kleiner Mengen, Import/Export etc.

Ganz besonders in den Bereichen HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellen-Komponenten und Instrumenten verfügen wir über langjährige Erfahrung und tiefgehendes Wissen.