Im April stellen wir aus...

GEMIC German Microwave Conference, Duisburg und Internationaler Workshop zu Terahertz-Technologie und Anwendungen, Kaiserslautern

Presse / Veröffentlichungen

Wie ein Power Device Analyzer bei kritischen Designs unterstützt

Zeitschrift: Elektronik Praxis
Erscheinungstermin: April 2023
Vogel Verlag: Wie ein Power Analyzer bei kritischen Designs unterstützt

Links zu YouTube-Filmen: Berührungsloser On-Wafer Test und IC Charakterisierung

Fehlerhaft kontaktierende und vor allem defekte Prüfspitzen gehören der Vergangenheit an.

Mit der weltweit ersten berührungslosen Probe Station für On-Wafer Testing und IC Charakterisierung können Sie ohne mechanischen Kontakt messen und damit den kostenintensiven Verschleiß von Prüfspitzen unterbinden. Da die Probe Station entsprechend Ihren Prüfaufgaben vorkonfiguriert geliefert wird, ist die Inbetriebnahme sehr einfach.

Schauen Sie sich dazu unsere Videos an.

Link zu YouTube: Einführung in die Probe Station

Link zu YouTube: Inbetriebnahme der Probe Station

Link zu YouTube: Kalibration der Probe Station

Rauschparameter schnell und reproduzierbar messen

Zeitschrift: ElektronikPraxis
Erscheinungstermin: November 2017

Effektives Debugging des Stromverbrauchs batteriebetriebener Geräte

Zeitschrift: all-electronics
Erscheinungstermin: Oktober 2017

Was Sie über den Load-Pull-Test wissen sollten

Zeitschrift: Elektronik Praxis
Erscheinungstermin: März 2017

Das Charakterisieren von Leistungshalbleitern wird anspruchsvoller

Zeitschrift: Elektronik Praxis
Erscheinungstermin: September 2016

Hotspots bei Halbleitern messen

Zeitschrift: elektronik journal Nr. 7
Erscheinungstermin: August 2016

Adapter ist nicht gleich Adapter -

Zeitschrift: HF-Journal
Erscheinungstermin: Juli 2016

Volle Power

Zeitschrift: Electronic Journal
Erscheinungstermin: Juni 2015

Temperaturverteilung im Chip

Zeitschrift: Elektronik Industrie
Erscheinungstermin: Oktober 2014