Presse / Veröffentlichungen

S-Parameter, harmonische Analyse und Active Load-Pull bis THz messen

Zeitschrift: hf-praxis
Erscheinungstermin: März 2018
beam-Verlag: S-Parameter, harmonische Analyse und Active Load-Pull bis THz messen

Neu: Berührungsloser On-Wafer Test und IC Charakterisierung

Fehlerhaft kontaktierende und vor allem defekte Prüfspitzen gehören der Vergangenheit an.

Mit der weltweit ersten berührungslosen Probe Station für On-Wafer Testing und IC Charakterisierung können Sie ohne mechanischen Kontakt messen und damit den kostenintensiven Verschleiß von Prüfspitzen unterbinden. Da die Probe Station entsprechend Ihren Prüfaufgaben vorkonfiguriert geliefert wird, ist die Inbetriebnahme sehr einfach.

Schauen Sie sich dazu unsere Videos an.

Einführung in die Probe Station

Inbetriebnahme der Probe Station

Kalibration der Probe Station

Rauschparameter schnell und reproduzierbar messen

Zeitschrift: ElektronikPraxis
Erscheinungstermin: November 2017

Effektives Debugging des Stromverbrauchs batteriebetriebener Geräte

Zeitschrift: all-electronics
Erscheinungstermin: Oktober 2017

Was Sie über den Load-Pull-Test wissen sollten

Zeitschrift: Elektronik Praxis
Erscheinungstermin: März 2017

Das Charakterisieren von Leistungshalbleitern wird anspruchsvoller

Zeitschrift: Elektronik Praxis
Erscheinungstermin: September 2016

Hotspots bei Halbleitern messen

Zeitschrift: elektronik journal Nr. 7
Erscheinungstermin: August 2016

Adapter ist nicht gleich Adapter -

Zeitschrift: HF-Journal
Erscheinungstermin: Juli 2016

Volle Power

Zeitschrift: Electronic Journal
Erscheinungstermin: Juni 2015

Temperaturverteilung im Chip

Zeitschrift: Elektronik Industrie
Erscheinungstermin: Oktober 2014