Presse - bsw-ag

Wie ein Power Device Analyzer bei kritischen Designs unterstützt

Zeitschrift: Elektronik Praxis
Erscheinungstermin: April 2023
Vogel Verlag: Wie ein Power Analyzer bei kritischen Designs unterstützt

Hochfrequenz-Probing Teil 2: Messaufbau mit Kontaktier- und Prüfstationen

Zeitschrift: all-electronics
Erscheinungstermin: Mai 2020
Hüthig Verlag: Hochfrequenz-Probing Teil 2

Leistungshalbleiter zum Test richtig kontaktieren

Zeitschrift: all-electronics
Erscheinungstermin: März 2020
Hüthig Verlag: Leistungshalbleiter zum Test richtig kontaktieren

Hochfrequenz-Probing Teil 1: Prüfspitzen und Verbindungselemente

Zeitschrift: all-electronics
Erscheinungstermin: September 2019
Hüthig Verlag: Prüfspitzen und Verbindungselemente fürs Hochfrequenz-Probing

Optimierung von Taktverstärkern durch additive Phasenrauschmessungen

Zeitschrift: elektronik industrie
Erscheinungstermin: November 2018
Hüthig Verlag: Optimierung von Taktverstärkern / Additive Phasenrauschmessungen

S-Parameter, harmonische Analyse und Active Load-Pull bis THz messen

Zeitschrift: all-electronics
Erscheinungstermin: Mai 2018
Hüthig Verlag: S-Parameter, harmonische Analyse und Active Load-Pull bis THz messen

Links zu YouTube-Filmen: Berührungsloser On-Wafer Test und IC Charakterisierung

Fehlerhaft kontaktierende und vor allem defekte Prüfspitzen gehören der Vergangenheit an.

Mit der weltweit ersten berührungslosen Probe Station für On-Wafer Testing und IC Charakterisierung können Sie ohne mechanischen Kontakt messen und damit den kostenintensiven Verschleiß von Prüfspitzen unterbinden. Da die Probe Station entsprechend Ihren Prüfaufgaben vorkonfiguriert geliefert wird, ist die Inbetriebnahme sehr einfach.

Schauen Sie sich dazu unsere Videos an.

Link zu YouTube: Einführung in die Probe Station

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Link zu YouTube: Inbetriebnahme der Probe Station

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Link zu YouTube: Kalibration der Probe Station

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