Wafer Probing mit DC- und Hochfrequenz-Kontaktierlösungen
Stabile Kontaktierung im DC-, HF- und Miilimeterwellen-Frequenzbereich
Beim Wafer-Probing kommt es auf die Signalqualität an: Nur eine verlustarme und reflexionsfreie Übertragung zwischen Instrumenten und Chips garantiert exakte Testergebnisse. Unsere Hochfrequenz-Kontaktierlösungen stellen diese Präzision bei der Charakterisierung moderner Halbleiter verlässlich sicher.
Unsere Probe-Stations und Hochfrequenz-Testlösungen wurden speziell für die hohen Anforderungen im HF-Probing entwickelt. Sie vereinen extreme Genauigkeit mit mechanischer Stabilität und lassen sich flexibel auf unterschiedliche Wafer, Frequenzbereiche sowie Messaufgaben abstimmen. Dadurch verkürzen Sie die Rüstzeiten bei On-Wafer-Messungen und erzielen jederzeit valide Messergebnisse in Forschung, Entwicklung und Produktion.
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Wafer Probing Testsysteme und Komponenten
Mit unserer Erfahrung im Bereich Hochfrequenz-Probing bieten wir Wafer Testlösungen, die sich nahtlos in bestehende Messumgebungen integrieren. Anwender profitieren von einfacher Handhabung, robuster Technik und einer konstant hohen Messqualität. So schaffen unsere Wafer-Probing- Systeme die Grundlage für eine sichere Validierung und Weiterentwicklung moderner Halbleitertechnologien.
Wie konfiguriert man Testsysteme für präzises HF-Wafer-Probing?
Beim HF-Wafer-Probing bestimmen nicht nur der Netzwerkanalysator und die Messspitzen die Qualität der Ergebnisse. Probe Station, HF-Probes, Kabel, Kalibrierstandards, Positionierer und Software müssen exakt auf Frequenzbereich, Pad-Geometrie und Messaufgabe abgestimmt sein.
Besondere Anforderungen entstehen bei Millimeterwellen- und TeraHertz-Messungen, Load-Pull-Tests, Rauschparameteranalysen sowie kombinierten DC- und HF-Messungen. Parasitäre Effekte, Übersprechen, Kabelbewegungen und thermische Drift können die Messwerte bereits bei kleinsten Veränderungen verfälschen.
Wir konfigurieren dafür spezialisierte Wafer-Probing-Systeme aus aufeinander abgestimmten Komponenten. Dazu gehören manuelle, motorisierte und halbautomatische Probe Stations, HF-Messspitzen, Mikromanipulatoren, Impedanztuner, Kalibrierlösungen und die passende Messtechnik. Auch Sonderaufbauten, Systemerweiterungen, Inbetriebnahme und Anwenderschulungen werden an die konkrete Messaufgabe angepasst.
Wir sind Experten für Hochfrequenz: Testen Sie uns.
Unser Ziel ist es, alle Ihre Fragen rund ums Thema Wafer Probing zu beantworten.
Das umfangreiche Produkt-Portfolio und die bereichsübergreifende Expertise unseres Teams stellen uns dafür optimal auf.